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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532021 | 檢測器比例計數(shù)管X射線源空冷式小型X射線管準直器0.1、0.2mmφ2種樣品觀察CCD攝像頭樣品臺移動量250（X）×200（Y）mm樣品最大高度150mm | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532022 | 可測量元素原子序數(shù)13(Al)～83(Bi)X射線聚光聚光方式X射線源管電壓50kV管電流1mA檢測器Vortex®檢測器(無需液氮)分析范圍Φ0.1mm、Φ5mm樣品觀… | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532023 | 測定元素原子序號22（Ti）~83（Bi）X射線管管電壓：50kV管電流：1.5mA檢測器半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管準直器4種（0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ）樣品… | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532024 | 射線源空冷式小型X射線管準直器□型0.025x0.2mm,0.2x0.025mm○型0.05mm,0.1mm,0.2mmφ樣品表示倍率（CRT上）最大4倍可變焦距樣品平臺移動量：220（… | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532025 | 射線源空冷式小型X射線管準直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ樣品觀察CCD照相機過濾器Co:自動切換樣品平臺移動量:220（X）x150… | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532026 | 射線源空冷式小型X射線管準直器2種類型0.1、0.2mmφ計算機CPU(AT互換電腦)、HDD、FDD、Microsoft-Windows®過濾裝置數(shù)字過濾裝置樣品平臺臺面尺… | 洽詢 | 洽詢 |
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