原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表

面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對

探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后

發生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計算機全數字化控制，操作簡捷直觀。

步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。

深度陡度測量，三維顯示。

納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。

Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區域．

標準RS232串行接口,無需任何計算機卡

樣品觀測范圍從0.001um-20000um。

掃描速度達40000點/秒

可選配納米刻蝕功能模塊。

AFM探頭

樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。

XY最大掃描范圍：標準6X6微米

XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.25nm（AFM模式）

Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲式,DNA定標)；0.03nm（AFM云母定標）

XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米

步進馬達自動進行針尖-樣品逼近

44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)

AFM電化學針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）

全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購

電子學控制器:
XYZ控制	18-Bit D/A
數據采樣	14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋	DSP數字反饋
反饋采樣速率
高壓放大器	集成高壓運算放大器，最大電壓范圍+/-150V
頻率范圍	20K-1000KHz
幅度范圍	0-10.0V
掃描速率	>40000點/秒
掃描角度	0-360度
掃描偏移	任意
圖像采樣點	256X256或512X512
步進馬達控制	手動和自動進退
計算機接口	標準RS232串行/USB