艾測電子科技有限公司
中國區(qū)訂購熱線 021-69978588
| 廠商名稱 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品訂貨號 | 貨期（周） | 產(chǎn)品價格 |
|---|---|---|---|---|
| 德國EPK | 涂鍍層測厚儀 | A1531188 | 洽詢 | 16884 |
產(chǎn)品特點
測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：
• 鋼鐵基體上的非磁性覆層
• 有色金屬上的絕緣覆層
• 絕緣基體上的有色金屬覆層
電源：1X9V堿性電池或外接電源
電池壽命：10000次測量
工作環(huán)境溫度：主機0-50℃，測頭-10℃-70℃，暫時工作可達120℃
主機尺寸/重量：150mmx82mmx35mm/270克
*另有耐高溫測頭
適用標準：
DIN50891，50982，50984，ISO2178，2360，BS5411，ASTM B 499，B244-CE ISO
技術(shù)指標
|
技術(shù)特征 |
A1531188 |
A1531189 |
A1531530 |
A1531531 |
|
MINITEST存儲的數(shù)據(jù)量 |
||||
|
應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)） |
1 |
1 |
10 |
99 |
|
每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值） |
1 |
10 |
98 | |
|
可用各自的日期時間標識特性的組數(shù) |
1 |
最多500 |
最多500 | |
|
數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
|
MINITEST統(tǒng)計計算功能 |
||||
|
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar |
● |
|||
|
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
● |
● | ||
|
組統(tǒng)計值六種x,x,n,max,min,kvar |
● |
|||
|
組統(tǒng)計值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
● |
● | ||
|
存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
● | |||
|
分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值 |
● |
● | ||
|
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
● |
● |
● | |
|
MINITEST 校準方法 |
||||
|
透過涂層進行校準（CTC） |
● |
● |
● | |
|
在粗糙表面上作平均零校準 |
● |
● |
● |
● |
|
利用PC機進行基礎(chǔ)校準 |
● |
● |
● |
● |
|
補償一個常數(shù)（OFFSET） |
● |
● | ||
|
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 |
● |
● |
● | |
|
保護并鎖訂校準值 |
● |
● |
● |
● |
|
更換電池時存儲讀值 |
● |
● |
● |
● |
|
設(shè)置極限值 |
● |
● | ||
|
公英制轉(zhuǎn)換 |
● |
● |
● |
● |
|
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值 |
● |
● | ||
|
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值 |
● |
● |
● |
● |
|
浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送 |
● |
● |
● |
● |
|
無需連接測頭即可讀數(shù)值 |
● |
● |
● | |
|
組內(nèi)單值延遲顯示 |
● |
● |
● | |
|
連續(xù)測量模式中顯示最小值 |
● |
● |
● |
● |
測量特性
|
測頭 |
量程 |
低端分辨率 |
容差 |
最小曲率半徑（凸/凹） |
最小測量面積 |
最小基體厚度 |
尺寸（mm） | |
|
A1531540 |
FN1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62 |
|
A1531541 |
FN1.6P |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
只限平直表面 |
φ30mm |
F0.5mm/N50μm |
φ21x89 |
|
A1531542 |
FN2（也適合銅上鉻） |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62 |
|
A1531532 |
F05 |
0—500μm |
0.1μm |
±（1%+0.7μm） |
1mm/5mm |
φ3mm |
0.2mm |
φ15x62 |
|
A1531533 |
F1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
|
A1531536 |
F3* |
0—3000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
|
A1531534 |
F1.6/90（管內(nèi)測頭） |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
平直/6mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
|
A1531535 |
F2/90（管內(nèi)測頭） |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
平直/6mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
|
A1531537 |
F10 |
0—10mm |
5μm |
±（1%+10μm） |
5mm/16mm |
φ20mm |
1mm |
φ25x46 |
|
A1531538 |
F20 |
0—20mm |
10μm |
±（1%+10μm） |
10mm/30mm |
φ40mm |
2mm |
φ40x65 |
|
A1531539 |
F50 |
0—50mm |
10μm |
±（3%+50μm） |
50mm/200mm |
φ300mm |
2mm |
φ45x70 |
|
A1531543 |
N02 |
0—200μ |
0.1μm |
±（1%+0.5μmm） |
1mm/10mm |
φ2mm |
50μm |
φ16x70 |
|
A1531544 |
N08Cr（適合銅上鉻） |
0—80μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
2.5mm |
φ2mm |
100μm |
φ15x62 |
|
A1531545 |
N1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ2mm |
50μm |
φ15x62 |
|
A1531547 |
N2 |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ15x62 |
|
A1531546 |
N1.6/90 （管內(nèi) 測頭） |
0—1600μm |
0.1μm |
±（1%+1μm） |
平直/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ13x13x170 |
|
A1531548 |
N2/90 （管內(nèi)測頭） |
0—2000μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
平直/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ13x13x170 |
|
A1531549 |
N10 |
0—10mm |
10μm |
±（1%+25μm） |
25mm/100mm |
φ50mm |
50μm |
φ60x50 |
|
A1531550 |
N20 |
0—20mm |
10μm |
±（1%+50μm） |
25mm/100mm |
φ70mm |
50μm |
φ65x75 |
|
A1531551 |
N100 |
0—100mm |
100μm |
±（1%+0.3mm） |
100mm/平直 |
φ200mm |
50μm |
φ126x155 |
|
A1531552 |
CN02（絕緣基體上的有色金屬覆層） |
10—200μm |
0.2μm |
±（1%+1μm） |
只限平直表面 |
φ7mm |
無限制 |
φ17x80 |
物理特性
可選附件
持有證書
備注
產(chǎn)品規(guī)格列表
| 產(chǎn)品訂貨號 | 產(chǎn)品介紹 | 符合標準 | 最小訂量 | 價格 | 貨期 | 備注 |
| A1531188 | 涂層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：1；數(shù)據(jù)總量：1；在粗糙表面上作平均零校準；利用PC機進行基礎(chǔ)校準；保護并鎖訂校準值；更換電池時存儲讀值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌：德國EPK | 1 | 16884 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531189 | 涂層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：1；每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值）1；可用各自的日期時間標識特性的組數(shù)1；數(shù)據(jù)總量：10000；讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar；組統(tǒng)計值六種x,x,n,max,min,kvar；顯示并打印測量值、打印的日期和時間；透過涂層進行校準（CTC）；在粗糙表面上作平均零校準；利用PC機進行基礎(chǔ)校準；外設(shè)的讀值傳輸存儲功能；保護并鎖訂校準值；更換電池時存儲讀值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；無需連接測頭即可讀數(shù)值；組內(nèi)單值延遲顯示；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌： 德國EPK | 1 | 20693 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531530 | 涂鍍層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：10；每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值）10；可用各自的日期時間標識特性的組數(shù)最多500；數(shù)據(jù)總量：10000；讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；組統(tǒng)計值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值；顯示并打印測量值、打印的日期和時間；透過涂層進行校準（CTC）；在粗糙表面上作平均零校準；利用PC機進行基礎(chǔ)校準；補償一個常數(shù)（OFFSET）；外設(shè)的讀值傳輸存儲功能；保護并鎖訂校準值；更換電池時存儲讀值；設(shè)置極限值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；無需連接測頭即可讀數(shù)值；組內(nèi)單值延遲顯示；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌：德國EPK | 1 | 25163 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531531 | 涂鍍層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：99；每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值）98；可用各自的日期時間標識特性的組數(shù)最多500；數(shù)據(jù)總量：10000；讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；組統(tǒng)計值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)；分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值；顯示并打印測量值、打印的日期和時間；透過涂層進行校準（CTC）；在粗糙表面上作平均零校準；利用PC機進行基礎(chǔ)校準；補償一個常數(shù)（OFFSET）；外設(shè)的讀值傳輸存儲功能；保護并鎖訂校準值；更換電池時存儲讀值；設(shè)置極限值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；無需連接測頭即可讀數(shù)值；組內(nèi)單值延遲顯示；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌：德國EPK | 1 | 28200 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531532 | 測頭：量程：0—500μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.7μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1mm/5mm；最小測量面積：φ3mm；最小基體厚度：0.2mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 10106 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531533 | 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 6648 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531534 | 管內(nèi)測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/6mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德國EPK | 1 | 14191 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531535 | 管內(nèi)測頭：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/6mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德國EPK | 1 | 14191 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531536 | 測頭：量程：0—3000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 6648 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531537 | 測頭：量程：0—10mm；低端分辨率：5μm；容差：±（1%+10μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：5mm/16mm；最小測量面積：φ20mm；最小基體厚度：1mm；尺寸（mm）：φ25x46；品牌：德國EPK | 1 | 10852 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531538 | 測頭：量程：0—20mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+10μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：10mm/30mm；最小測量面積：φ40mm；最小基體厚度：2mm；尺寸（mm）：φ40x65；品牌：德國EPK | 1 | 11349 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531539 | 測頭：量程：0—50mm；低端分辨率：10μm；容差：±（3%+50μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：50mm/200mm；最小測量面積：φ300mm；最小基體厚度：2mm；尺寸（mm）：φ45x70；品牌：德國EPK | 1 | 32715 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531540 | 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 14787 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531541 | 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：只限平直表面；最小測量面積：φ30mm；最小基體厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ21x89；品牌：德國EPK | 1 | 31215 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531542 | 測頭：也適合銅上鉻；量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 17560 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531543 | 測頭：量程：0—200μ；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.5μmm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1mm/10mm；最小測量面積：φ2mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ16x70；品牌：德國EPK | 1 | 11478 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531544 | 測頭：適合銅上鉻；量程：0—80μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：2.5mm；最小測量面積：φ2mm；最小基體厚度：100μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 11478 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531545 | 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ2mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 10494 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531546 | 管內(nèi)測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德國EPK | 1 | 16577 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531547 | 測頭：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK | 1 | 22390 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531548 | 管內(nèi)測頭：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德國EPK | 1 | 16577 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531549 | 測頭：量程：0—10mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+25μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：25mm/100mm；最小測量面積：φ50mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ60x50；品牌：德國EPK | 1 | 22390 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531550 | 測頭：量程：0—20mm 低端分辨率：10μm；容差：±（1%+50μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：25mm/100mm；最小測量面積：φ70mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ65x75；品牌：德國EPK | 1 | 22390 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531551 | 測頭：量程：0—100mm；低端分辨率：100μm；容差：±（1%+0.3mm）；最小曲率半徑（凸/凹）：100mm/平直；最小測量面積：φ200mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ126x155；品牌：德國EPK | 1 | 28400 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531552 | 測頭：絕緣基體上的有色金屬覆層：量程：10—200μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：只限平直表面；最小測量面積：φ7mm；最小基體厚度：無限制；尺寸（mm）：φ17x80；品牌：德國EPK | 1 | 16397 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531553 | 測頭：鐵基體上未固化粉末涂層：0-1600um，低端分辨率0.1um；品牌：德國EPK | 1 | 20690 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531554 | 測頭：鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層；0-200um,分辨率0.1um；品牌：德國EPK | 1 | 22688 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531555 | 用于測頭N02 Tu的專用支架；品牌：德國EPK | 1 | 33421 | 洽詢 | 備注 | |
| A1531556 | RS232 接口電纜 for 2100/4100；品牌：德國EPK | 1 | 930 | 洽詢 | 備注 | |
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