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          艾測電子科技有限公司

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          廠商名稱 產(chǎn)品名稱 產(chǎn)品訂貨號 貨期(周) 產(chǎn)品價格
          德國EPK 涂鍍層測厚儀 A1531188 洽詢 16884

          產(chǎn)品特點(diǎn)

          涂層測厚儀

          測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

          • 鋼鐵基體上的非磁性覆層

          • 有色金屬上的絕緣覆層

          • 絕緣基體上的有色金屬覆層

          電源:1X9V堿性電池或外接電源

          電池壽命:10000次測量

          工作環(huán)境溫度:主機(jī)0-50℃,測頭-10℃-70℃,暫時工作可達(dá)120℃

          主機(jī)尺寸/重量:150mmx82mmx35mm/270克

          *另有耐高溫測頭

          適用標(biāo)準(zhǔn):

          DIN50891,50982,50984,ISO2178,2360,BS5411,ASTM B 499,B244-CE ISO

          技術(shù)指標(biāo)

          技術(shù)特征

          A1531188

          A1531189

          A1531530

          A1531531

          MINITEST存儲的數(shù)據(jù)量

          應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

          1

          1

          10

          99

          每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)

          1

          10

          98

          可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)

          1

          最多500

          最多500

          數(shù)據(jù)總量

          1

          10000

          10000

          10000

          MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

          讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

          讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

          組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar

          組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

          存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

          分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值

          顯示并打印測量值、打印的日期和時間

          MINITEST 校準(zhǔn)方法

          透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC

          在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)

          利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)

          補(bǔ)償一個常數(shù)(OFFSET

          外設(shè)的讀值傳輸存儲功能

          保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值

          更換電池時存儲讀值

          設(shè)置極限值

          公英制轉(zhuǎn)換

          連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值

          連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值

          浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送

          無需連接測頭即可讀數(shù)值

          組內(nèi)單值延遲顯示

          連續(xù)測量模式中顯示最小值

           

          測量特性

          測頭

          量程

          低端分辨率

          容差

          最小曲率半徑(凸/凹)

          最小測量面積

          最小基體厚度

          尺寸(mm

          A1531540

          FN1.6

          01600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          F0.5mm/N50μm

          φ15x62

          A1531541

          FN1.6P

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          只限平直表面

          φ30mm

          F0.5mm/N50μm

          φ21x89

          A1531542

          FN2(也適合銅上鉻)

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          F0.5mm/N50μm

          φ15x62

          A1531532

          F05

          0—500μm

          0.1μm

          ±1%+0.7μm

          1mm/5mm

          φ3mm

          0.2mm

          φ15x62

          A1531533

          F1.6

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ15x62

          A1531536

          F3*

          0—3000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ15x62

          A1531534

          F1.6/90(管內(nèi)測頭)

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          平直/6mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ8x8x170

          A1531535

          F2/90(管內(nèi)測頭)

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          平直/6mm

          φ5mm

          0.5mm

          φ8x8x170

          A1531537

          F10

          0—10mm

          5μm

          ±1%+10μm

          5mm/16mm

          φ20mm

          1mm

          φ25x46

          A1531538

          F20

          0—20mm

          10μm

          ±1%+10μm

          10mm/30mm

          φ40mm

          2mm

          φ40x65

          A1531539

          F50

          0—50mm

          10μm

          ±3%+50μm

          50mm/200mm

          φ300mm

          2mm

          φ45x70

          A1531543

          N02

          0—200μ

          0.1μm

          ±1%+0.5μmm

          1mm/10mm

          φ2mm

          50μm

          φ16x70

          A1531544

          N08Cr(適合銅上鉻)

          0—80μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          2.5mm

          φ2mm

          100μm

          φ15x62

          A1531545

          N1.6

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ2mm

          50μm

          φ15x62

          A1531547

          N2

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          1.5mm/10mm

          φ5mm

          50μm

          φ15x62

          A1531546

          N1.6/90 (管內(nèi)

          測頭)

          0—1600μm

          0.1μm

          ±1%+1μm

          平直/10mm

          φ5mm

          50μm

          φ13x13x170

          A1531548

          N2/90 (管內(nèi)測頭)

          0—2000μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          平直/10mm

          φ5mm

          50μm

          φ13x13x170

          A1531549

          N10

          0—10mm

          10μm

          ±1%+25μm

          25mm/100mm

          φ50mm

          50μm

          φ60x50

          A1531550

          N20

          0—20mm

          10μm

          ±1%+50μm

          25mm/100mm

          φ70mm

          50μm

          φ65x75

          A1531551

          N100

          0—100mm

          100μm

          ±1%+0.3mm

          100mm/平直

          φ200mm

          50μm

          φ126x155

          A1531552

          CN02(絕緣基體上的有色金屬覆層)

          10—200μm

          0.2μm

          ±1%+1μm

          只限平直表面

          φ7mm

          無限制

          φ17x80

           

          物理特性

          可選附件

          持有證書

          備注

          產(chǎn)品規(guī)格列表
          產(chǎn)品訂貨號 產(chǎn)品介紹 符合標(biāo)準(zhǔn) 最小訂量 價格 貨期 備注
          A1531188 涂層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;數(shù)據(jù)總量:1;在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時存儲讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 16884 洽詢 備注
          A1531189 涂層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)1;可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)1;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar;組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar;顯示并打印測量值、打印的日期和時間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);外設(shè)的讀值傳輸存儲功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時存儲讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌: 德國EPK 1 20693 洽詢 備注
          A1531530 涂鍍層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):10;每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)10;可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測量值、打印的日期和時間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時存儲讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 25163 洽詢 備注
          A1531531 涂鍍層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):99;每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)98;可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù);分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測量值、打印的日期和時間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時存儲讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 28200 洽詢 備注
          A1531532 測頭:量程:0—500μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.7μm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/5mm;最小測量面積:φ3mm;最小基體厚度:0.2mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 10106 洽詢 備注
          A1531533 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 6648 洽詢 備注
          A1531534 管內(nèi)測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國EPK 1 14191 洽詢 備注
          A1531535 管內(nèi)測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國EPK 1 14191 洽詢 備注
          A1531536 測頭:量程:0—3000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 6648 洽詢 備注
          A1531537 測頭:量程:0—10mm;低端分辨率:5μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):5mm/16mm;最小測量面積:φ20mm;最小基體厚度:1mm;尺寸(mm):φ25x46;品牌:德國EPK 1 10852 洽詢 備注
          A1531538 測頭:量程:0—20mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):10mm/30mm;最小測量面積:φ40mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ40x65;品牌:德國EPK 1 11349 洽詢 備注
          A1531539 測頭:量程:0—50mm;低端分辨率:10μm;容差:±(3%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):50mm/200mm;最小測量面積:φ300mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ45x70;品牌:德國EPK 1 32715 洽詢 備注
          A1531540 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 14787 洽詢 備注
          A1531541 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測量面積:φ30mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ21x89;品牌:德國EPK 1 31215 洽詢 備注
          A1531542 測頭:也適合銅上鉻;量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 17560 洽詢 備注
          A1531543 測頭:量程:0—200μ;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.5μmm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/10mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ16x70;品牌:德國EPK 1 11478 洽詢 備注
          A1531544 測頭:適合銅上鉻;量程:0—80μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):2.5mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:100μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 11478 洽詢 備注
          A1531545 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 10494 洽詢 備注
          A1531546 管內(nèi)測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國EPK 1 16577 洽詢 備注
          A1531547 測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
          A1531548 管內(nèi)測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國EPK 1 16577 洽詢 備注
          A1531549 測頭:量程:0—10mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+25μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測量面積:φ50mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ60x50;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
          A1531550 測頭:量程:0—20mm 低端分辨率:10μm;容差:±(1%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測量面積:φ70mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ65x75;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
          A1531551 測頭:量程:0—100mm;低端分辨率:100μm;容差:±(1%+0.3mm);最小曲率半徑(凸/凹):100mm/平直;最小測量面積:φ200mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ126x155;品牌:德國EPK 1 28400 洽詢 備注
          A1531552 測頭:絕緣基體上的有色金屬覆層:量程:10—200μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測量面積:φ7mm;最小基體厚度:無限制;尺寸(mm):φ17x80;品牌:德國EPK 1 16397 洽詢 備注
          A1531553 測頭:鐵基體上未固化粉末涂層:0-1600um,低端分辨率0.1um;品牌:德國EPK 1 20690 洽詢 備注
          A1531554 測頭:鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層;0-200um,分辨率0.1um;品牌:德國EPK 1 22688 洽詢 備注
          A1531555 用于測頭N02 Tu的專用支架;品牌:德國EPK 1 33421 洽詢 備注
          A1531556 RS232 接口電纜 for 2100/4100;品牌:德國EPK 1 930 洽詢 備注
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          A1531558 精密探頭支架:Probe guide, precision;品牌:德國EPK 1 36385 洽詢 備注
          AL1532285 MiniPrint4100專用打印機(jī):適合EPK除700系列所有產(chǎn)品;品牌:德國EPK 1 7891 洽詢 備注
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