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艾測電子科技有限公司

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產品目錄

廠商名稱	產品名稱	產品訂貨號	貨期（周）	產品價格
中國	高精度覆層測厚儀	A1535149	洽詢	洽詢

產品特點

在國內同類產品中，測量精度最高（A級），速度最快，穩定性最好。且操作方便，外形美觀。主要測量金屬表面涂、鍍層

的厚度。

本儀器能廣泛地應用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。既可用于實驗室，也可用于

工程現場。配置不同的探頭，適用于不同場合。它是無損檢測行業的必備儀器。

功能特點

兩種工作方式：直接方式和成組方式轉換

兩種測量方式：單次測量和連續測量（大面積內快速獲取讀數）轉換公、英制轉換

開機后顯示最后一個讀數

背景照明（可選擇）

聲音提示數據已讀取

可設置數據的測量范圍，聲音提示數據超出允許的測量范圍

具有測量數據存儲功能

具有測量數據的統計計算功能

具有測量數據的刪除功能（刪除當前測量值，刪除當前組測量數據，刪除當前組所有數據）

可存儲295個數據

全中文菜單

多種校準方式

具有手動和自動關機功能

LT200-1N標配N1探頭

標準配置：主機、探頭（N1）、基體、試塊、5試片（50µm、100µm、200µm、500、1000µm）、9V堿性電池

技術指標

探頭

A1535150

A1535151

A1535152

A1535153

A1535154

A1535155

A1535156

測量原理

磁性

渦流

測量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測量精度μm

一點校準

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±(3%H+1)

二點校準

±（1～3％H+0.7）

±[(1~3)%H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

最小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

1.5

僅為平面

最小面積直徑(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.3

無限制

測頭選用參考表

覆蓋層基體		有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）		非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
		覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm	覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積直徑大于30mm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F1型測頭 0～1250μm F10型測頭 0～10μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F1型測頭 0～1250μm F10型測頭 0～10μm
	被測面積直徑小于30mm	F400型測頭0～400μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm	F400型測頭0～400μm	F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	被測面積直徑大于10mm	N1型測頭0～1250μm N400測頭0～400μm		僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm
	被測面積直徑大于10mm	N400測頭0～400μm		N400測頭0～40μm
塑料、印刷線路非金屬基體	被測面積直徑大于7mm	--	--	CN02型測頭10～200μm

測量特性

物理特性

可選附件

持有證書

備注

產品規格列表

產品訂貨號	產品介紹	符合標準	最小訂量	價格	貨期	備注
A1535149	高精度覆層測厚儀：本儀器能廣泛地應用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。既可用于實驗室，也可用于工程現場。配置不同的探頭，適用于不同場合。品牌：中國		1	洽詢	洽詢	備注
A1535150	探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～400；測量精度μm：一點校準：±[(1～3)%H+0.7]；二點校準：±（1～3％H+0.7）；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：(凸)1；最小面積直徑(mm)：￠3；基本臨界厚度(mm)：0.2；品牌：中國		1	4433	洽詢	備注
A1535151	探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～1250；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：1.5；最小面積直徑(mm)：￠7；基本臨界厚度(mm)：0.5；品牌：中國		1	2100	洽詢	備注
A1535152	探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～1250；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：平直；最小面積直徑(mm)：￠7；基本臨界厚度(mm)：0.5；品牌：中國		1	8216	洽詢	備注
A1535153	探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～10mm；測量精度μm：一點校準±（3%H+10）；二點校準：±[(1~3)%H+10]；低限分辨率：1；最小曲率半徑(mm)：10；最小面積直徑(mm)：￠40；基本臨界厚度(mm)：2；品牌：中國		1	4433	洽詢	備注
A1535154	探頭：測量原理：渦流；測量范圍（μm）：0～400；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：1.5；最小面積直徑(mm)：￠4；基本臨界厚度(mm)：0.3；品牌：中國		1	4433	洽詢	備注
A1535155	探頭：測量原理：渦流；測量范圍（μm）：0～12500；測量精度μm：一點校準±（3%H+1.5）；二點校準：±[(1~3)%H+1.5]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：3；最小面積直徑(mm)：￠5；基本臨界厚度(mm)：0.3；品牌：中國		1	2100	洽詢	備注
A1535156	探頭：測量原理：渦流；測量范圍（μm）：10～200；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：---；低限分辨率：1；最小曲率半徑(mm)：僅為平面；最小面積直徑(mm)：￠7；基本臨界厚度(mm)：無限制；品牌：中國		1	洽詢	洽詢	備注

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