方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品，是一種依照類似國家標準和美國A.S.T.M標準而設計，專門

測量半導體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻，單位Ω/□)的新型儀器。可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(如ITO

透明導電氧化膜)……等同類物質的薄層電阻。

該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配

以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定； 

以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰； 

采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示； 

體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； 

輕便手持式設計操作、測試簡便； *.特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜； 

帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED) 、探頭帶抗靜電模塊； 

單電源開關，推拉式探頭-主機接插件，操作極其簡便；

按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：

1 1.00～199.99Ω/□；

2 10.0～1999.9Ω/□；

恒流源：

測量過程誤差：≤±0.8%；

模數轉換器：

量程：0～199.99mv；

分辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；

測量不確定度：

在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%

四探針頭：

間距：1mm或3.8mm可選,偏差：≤2%；

針間絕緣電阻≥500MΩ；

電源：9V疊層電池1節